本仪器可广泛用于机械工业的金相组织观察分析，地矿部门对矿物的分析研究，电子工业中的晶体、集成电路、微电子等方面的观察测量，是工厂、高等院校、科研机构及电子工业的首选。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好，简洁而新颖的外观更符合现代潮流，人性化的设计，简便的操作使您从繁重的工作压力中解放出来。
技术规格
观察头
45°铰链式三目
目镜
WF10×/18mm
WF10×/18mm,带0.1mm十字分划板
物镜
195平场金相物镜：4×/0.1W.D.25mm、10×/0.25W.D.11mm、
20×/0.4W.D.9mm、40×/0.6W.D.3.8mm
平台
双层移动平台
平台尺寸：172mm×142mm
移动范围：30mm×30mm
滤色片
插板式滤色片（绿色、蓝色、黄色）
调焦
粗、微动同轴调焦，采用齿轮齿条传动机构 微动格值0.002mm
光源
带孔径可变光阑和视场可变光阑12V/20W，AC85V-230V，亮度可调节
偏光装置
检偏镜可360度转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路
检测工具
0.01mm测微尺
可供附件
专业金相图像分析软件
130万、200万、300万、500万像素 CMOS电子目镜
195平场金相物镜：50×80×100×
摄影装置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75×
简易暗场装置
彩色1/3寸 CCD 520条线
